綜合熱分析儀主要是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備，可以進(jìn)行微小領(lǐng)域（微米等級(jí)）、納米薄膜、Sic（單晶體、多晶體）、AIN等的測(cè)量。熱分析儀檢測(cè)設(shè)備利用激光對(duì)樣品進(jìn)行調(diào)制循環(huán)加熱、通過(guò)紅外線(xiàn)放射量的變化，將樣品內(nèi)部異常部分的檢測(cè)或不均勻性的熱特性可視化。內(nèi)載紅外宏觀光學(xué)系照相機(jī)，可高倍率觀察。并且，使用樣品加熱器的熱傳播檢查和簡(jiǎn)易溫度測(cè)量都可以進(jìn)行。

　　綜合熱分析儀的原理：

　　消除稱(chēng)重量、樣品均勻性、升溫速率一致性、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線(xiàn)對(duì)應(yīng)性更佳。根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對(duì)應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對(duì)應(yīng)的物化過(guò)程(如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等)。在反應(yīng)溫度處知道樣品的當(dāng)前實(shí)際質(zhì)量，有利于反應(yīng)熱焓的準(zhǔn)確計(jì)算。

　　產(chǎn)品不僅波長(zhǎng)連續(xù)自動(dòng)可調(diào)，而且精度大幅提高，從傳統(tǒng)元素分析儀的波長(zhǎng)誤差一般20nm(±5nm)提高到現(xiàn)在的3nm，因而可以使產(chǎn)品在擴(kuò)大應(yīng)用范圍的同時(shí)，提高分析檢測(cè)的準(zhǔn)確度?？蓹z測(cè)普碳鋼、低合金鋼、高合金鋼、生鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多種元素。每個(gè)元素可儲(chǔ)存99條工作曲線(xiàn)，品牌電腦微機(jī)控制,全中文菜單式操作?？梢詽M(mǎn)足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來(lái)料化驗(yàn)等方面對(duì)材料多元素分析的需要。

　　綜合熱分析儀檢測(cè)設(shè)備特點(diǎn)

　　1、熱分析儀熱物理性顯微鏡是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備；

　　2、熱分析儀檢測(cè)設(shè)備可以通過(guò)點(diǎn)、線(xiàn)、面測(cè)量樣品的熱物性；

　　3、該設(shè)備可以測(cè)量以往難以測(cè)量的微米等級(jí)的熱物性值的分布；

　　4、非接觸方式且高分辨率的熱物性測(cè)量設(shè)備；

　　5、檢測(cè)光spot直徑3μm、高分辨率來(lái)測(cè)量微小領(lǐng)域的熱物性（點(diǎn)、線(xiàn)、面  測(cè)量）；

　　6、因?yàn)榭筛淖兩疃确秶鷣?lái)測(cè)量，所以從薄膜、多層膜到散裝材料都可測(cè)量；

　　7、 基板上的樣品也可測(cè)量；

　　8、 熱分析儀激光非接觸式測(cè)量；

　　9、可檢測(cè)薄膜下的裂紋、孔隙、脫落等問(wèn)題。